JEOL: Lançamento do novo microscópio eletrônico de varredura Série JSM-IT510 InTouchScope™

novembro 8, 2021

0 4 2 minutos de leitura

TÓQUIO 8/11/2021 –

JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(Presidente e diretor de Operações Izumi Oi) anuncia o desenvolvimento e lançamento de um novo microscópio de varredura (Scanning Electron Microscope, SEM), série JSM-IT510 em novembro de 2021.

Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20211108005652/pt/

JSM-IT510 (LA) (Photo: Business Wire)

Histórico do desenvolvimento do produto

Os microscópios de varredura de elétrons são utilizados em uma grande variedade de áreas, entre elas, nanotecnologia, metais, semicondutores, cerâmica, medicina e biologia. Além disso, as aplicações SEM estão sendo ampliadas, não apenas para pesquisa básica, mas também para o controle de qualidade em fábricas. Com isso, demandas para aquisição de dados de forma mais rápida e mais fácil de imagens SEM e resultados de análise, tais como Espectroscopia de raios X por dispersão em energia (EDS) estão aumentando.

Para atender essas necessidades e aumentar produtividade, desenvolvemos a série JSM-IT510, que desenvolve ainda mais a operabilidade do nosso popular InTouchScope™. Com a nova função Simple SEM, agora você pode “deixar” sua rotina diária (operação repetitiva) para o instrumento.

Principais recursos

Nova função “Simple SEM”

A função Simple SEM permite que o usuário selecione as condições de aquisição e campo de visão para a imagem SEM, e em seguida, a imagem SEM é automaticamente adquirida. O trabalho de rotina pode ser mais eficaz.
Novo “Detector de Elétrons Secundários de Baixo Vácuo (Low-vacuum Hybrid Secondary Electron Detector, LHSED)”

Esse novo detector coleta sinais de elétron e fóton fornecendo uma imagem com alto S/N e informação topográfica aprimorada mesmo sob um vácuo baixo.
Integração de microscópio eletrônico de varredura (SEM) e do Sistema de espectroscopia de raios X por dispersão em energia (EDS).

A integração de SEM e do EDS tem sido desenvolvida ainda mais, e a função Live Map permite exibição ao vivo de mapa elementar do campo de observação da visão.
Nova função “Live 3D”

Imagens 3D podem ser construídas no local enquanto a observação SEM está sendo desempenhada para obter informações de irregularidade e de profundidade.
Função Live Analysis

O sistema EDS integrado exibe um espectro EDS em tempo real durante a observação da imagem, para uma análise elementar eficiente.
Nova função do sistema de Navegação por Etapas LS

O novo sistema de Navegação por Etapas LS pode adquirir uma imagem óptica de uma área quatro vezes maior do que os modelos convencionais (200 mm x 200 mm). Essa função permite que o usuário adquira uma imagem óptica da amostra de observação e mova para o campo de observação desejado simplesmente clicando na imagem óptica.
Zeromag

Com a nossa função Zeromag, a navegação nas amostras é ainda mais fácil do que nunca. Você pode localizar áreas para imagens ou especificar posições de análise sob múltiplos campos usando uma imagem óptica ou gráfico do portador.
Exibição da profundidade característica da geração de x-ray

Isso valida um rápido entendimento da profundidade da análise (referência) para a amostra.
SMILE VIEW™ Lab, que possibilita o gerenciamento integrado de dados de imagem e análise.

Facilita a geração de relatórios para todos os dados, desde imagens SEM coletadas até resultados de análises elementares.

Meta de vendas

200 unidades/ano

URL do produto: https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT510.html

JEOL Ltd.

3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão

Izumi Oi, presidente e diretor de Operações (COO)

(Código de ações: 6951, primeira seção da Bolsa de Valores de Tóquio)

www.jeol.com

A versão oficial e autorizada do comunicado é a emitida na língua original do mesmo. A tradução é apenas uma ajuda, devendo a mesma ser conferida com o texto na sua língua original, que é a única versão com validade legal.